BRDF + TIS Datenbank von Acktars lichtabsorbierenden Beschichtungen

Oktober 5, 2023

CEO ACM Coatings GmbH – subsidiary of Acktar Ltd.

WARUM UND WANN MAN ÜBER STREULICHT NACHDENKEN SOLLTE

So früh wie möglich im Entwicklungsprozess neuer photonischer Instrumente und Systeme.
Es ist jedoch nie zu spät, Verbesserungen an bestehenden Produkten zu einem späteren Zeitpunkt im Produktlebenszyklus vorzunehmen

Die Simulation und Analyse von Streulicht ist ein wichtiges Instrument bei der Entwicklung von optischen Hochleistungsinstrumenten. Die Simulation kann jedoch nur so gut sein wie die eingegebenen Daten.
Bidirektionale Reflexions- und Transmissionsverteilungsfunktionen (BRDF, BTDF) sind die grundlegende Methode zur Beschreibung und Bewertung der Verteilung der Streuung von optischen Komponenten.
Aufgrund der zahlreichen möglichen Ursachen der Streuung (Rauheit, Defekte, Bulk, Beschichtungen) und der recht komplexen Beziehungen zwischen solchen Unvollkommenheiten und der Lichtstreuung muss die BRDF von optischen Komponenten gemessen werden. Dies gilt insbesondere für hochwertige optische Komponenten, z. B. für die Raumfahrt, Halbleiter, IR-Sensorik, LIDAR, Bildgebung, Bioanalytik, medizinische und andere anspruchsvolle photonische Anwendungen.

Um Streulicht in komplexen optischen Systemen zu unterdrücken, werden Baffeln und schwarze diffundierende Absorberbeschichtungen angewendet. Auch wenn solche Oberflächen bei nahezu normalem Einfall und sichtbaren Wellenlängen perfekt diffus und schwarz aussehen mögen, ändert sich die Streuverteilung in der Regel bei größeren Einfallswinkeln und anderen Wellenlängen. Im Extremfall des streifenden Einfalls und/oder bei infraroten Wellenlängen verhalten sich einige Materialien, die im sichtbaren Bereich schwarz sind, wie gute Spiegel, so dass Streustrahlung innerhalb des optischen Systems aufprallt, anstatt unterdrückt zu werden. Die Streuung von schwarzen Beschichtungen muss daher unter Anwendungsbedingungen gemessen werden.
In den letzten Monaten haben wir mit unserem Partner Synopsys (früher bekannt als Light Tec SARL) zusammengearbeitet, um unsere tiefschwarzen Oberflächen zu messen und eine Datenbank mit 3D #BRDF und TIS zu erstellen.

Einfallswinkel (AOI), die wir in unseren Daten abdecken:

10° / 30° / 50° / 70° / 80°

Abgedeckte Wellenlängenbereiche:

TIS: